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Kazutoshi Kobayashi
Professor, Kyoto Institute of Technology
在 kit.ac.jp 的電子郵件地址已通過驗證
被引用 3471 次
CMOS
Soft errors
BTI
RTN
variations
Mojtaba Ebrahimi
Functional Safety Engineer, Robert Bosch GmbH
在 bosch.com 的電子郵件地址已通過驗證
被引用 2078 次
Functional Safety
Soft Errors
Transistor Aging
NVM
Daisuke Kobayashi
ISAS/JAXA
在 isas.jaxa.jp 的電子郵件地址已通過驗證
被引用 1460 次
Radiation Effects
Space Electronics
Soft Errors
Srikanth Jagannathan
NXP Semiconductors
在 nxp.com 的電子郵件地址已通過驗證
被引用 1453 次
AMS verification
soft errors
radiation effects
RF design
circuit and device reliability
Steven Walstra
Intel Corporation; University of Florida
在 intel.com 的電子郵件地址已通過驗證
被引用 1113 次
Circuit-Level Reliabilty
Soft Errors
Compact Resistance and Capacitance …
Hsiao-Heng Kelin Lee
Nvidia
在 link-a-media.com 的電子郵件地址已通過驗證
被引用 743 次
Soft Errors
Radiation Effects
Li Yuanqing
Infinera Canada Inc., IHP, University of Saskatchewan
在 infinera.com 的電子郵件地址已通過驗證
被引用 564 次
ASIC design
soft errors
radiation effects
DSP
Jens Vankeirsbilck
Postdoc, KU Leuven
在 kuleuven.be 的電子郵件地址已通過驗證
被引用 440 次
Soft Errors
Software-implemented Fault Tolerance
Fault Injection
Software Updates
Selahattin Sayil
Professor of Electrical Engineering, Lamar University, Beaumont, TX USA
在 lamar.edu 的電子郵件地址已通過驗證
被引用 409 次
soft errors
interconnect modeling
radiation mitigation
contactless testing
low power design
Tanima Dey
Software Engineer, Intel Corporation
在 intel.com 的電子郵件地址已通過驗證
被引用 310 次
Resource Contention
Computer Architecture
Performance Analysis
Soft Errors
Run-time Systems
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