載入中…
系統目前無法執行作業,請稍後再試。
文章
個人資料
我的個人學術檔案
我的圖書館
指標
快訊
設定
登入
登入
個人資料
我的個人學術檔案
我的圖書館
Lars-Åke Ragnarsson
imec
在 imec.be 的電子郵件地址已通過驗證
被引用 7219 次
CMOS
High-k
MOSFET
nanoelectronics
Takashi Ando
IBM TJ Watson Research Center
在 us.ibm.com 的電子郵件地址已通過驗證
被引用 7089 次
CMOS
High-k
Non-volatile Memory
Neuromorphic Computing
Chang Seok Kang
Senior Director, Applied Materials
在 amat.com 的電子郵件地址已通過驗證
被引用 5942 次
Memory
DRAM
Flash
High-k
Gate Dielectric
Barry P. Linder
Research Staff Member, IBM
在 us.ibm.com 的電子郵件地址已通過驗證
被引用 4963 次
CMOS
High-k
Metal Gate
Reliability
Injo Ok
NY CREATES
在 sunypoly.edu 的電子郵件地址已通過驗證
被引用 3559 次
Photonics
High-k
metal gate
Phase change memory
Per-Erik Hellström
KTH Royal Institute of Technology
在 kth.se 的電子郵件地址已通過驗證
被引用 1872 次
CMOS
process technology
SiGe
high-k
metal gates
Avishek Kumar
Sunkonnect, VFlowtech,Solar Energy Research Institute of Singapore, IMRE, NUS
在 vflowtech.com 的電子郵件地址已通過驗證
被引用 1798 次
Thin-film solar cells
III-V Semiconductors
Metal oxide semiconductor
High-k
graphene electronics
Hanjin Lim
Samsung Electronics
在 samsung.com 的電子郵件地址已通過驗證
被引用 1623 次
Semiconductor
High-k
ALD
Capacitor
TD Lin
National Tsing Hua University
在 mx.nthu.edu.tw 的電子郵件地址已通過驗證
被引用 1491 次
High k
high mobility channel
III-V MOSFETs
Si Nanoelectronics
Sang Young Lee
Intel Corporation
在 intel.com 的電子郵件地址已通過驗證
被引用 1406 次
High-k
Atomic Layer Deposition
Area Selective Deposition
Vt modulation
Reliability
1 - 10
隱私權
服務條款
說明
關於學術搜尋
Google 搜尋說明