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合著作者
- Edward SargentNorthwestern University & University of Toronto在 northwestern.edu 的电子邮件经过验证
- Dirk BouwmeesterUniversity of California Santa Barbara & Leiden University在 ucsb.edu 的电子邮件经过验证
- Sjoerd HooglandDepartment of Electrical and Computer Engineering, University of Toronto在 utoronto.ca 的电子邮件经过验证
- Alexander H. IpCERT Systems在 utoronto.ca 的电子邮件经过验证
- Andre J LabelleElectrical and Computer Engineering, University of Toronto在 mail.utoronto.ca 的电子邮件经过验证
- Pierre Petroff在 ucsb.edu 的电子邮件经过验证
- Oleksandr VoznyyAssociate Professor at University of Toronto在 utoronto.ca 的电子邮件经过验证
- Hyochul KimSamsung Advanced Institute of Technology在 samsung.com 的电子邮件经过验证
- Graham H. CareyPhD student, University of Toronto在 mail.utoronto.ca 的电子邮件经过验证
- Illan KramerUniversity of Toronto在 utoronto.ca 的电子邮件经过验证
- Ebuka S. ArinzeJohns Hopkins University, Electrical and Computer Engineering在 jhu.edu 的电子邮件经过验证
- David ZhitomirskyMIT在 mit.edu 的电子邮件经过验证
- Ratan DebnathNational Institute of Standards and Technology (NIST), Gaithersburg, USA在 nist.gov 的电子邮件经过验证
- Aram AmassianProfessor of Materials Science and Engineering, North Carolina State University在 ncsu.edu 的电子邮件经过验证
- Botong QiuJohns Hopkins University在 jhu.edu 的电子邮件经过验证
- Kang Wei ChouHenkel在 henkel.com 的电子邮件经过验证
- Yida LinThe Johns Hopkins Universit在 jhu.edu 的电子邮件经过验证
- Yan ChengJohns Hopkins University在 jhu.edu 的电子邮件经过验证
- Arlene ChiuJohns Hopkins University, Electrical and Computer Engineering在 jhu.edu 的电子邮件经过验证
- Osman BakrProfessor, Materials Science & Eng., King Abdullah University of Science and Technology (KAUST)在 kaust.edu.sa 的电子邮件经过验证