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合著作者
- David BishopProfessor of Electrical Engineering, Professor of Physics, Boston University在 bu.edu 的电子邮件经过验证
- Flavio PardoNokia Bell Labs在 nokia-bell-labs.com 的电子邮件经过验证
- Kartik SrinivasanNational Institute of Standards and Technology and Joint Quantum Institute, NIST/UMD在 nist.gov 的电子邮件经过验证
- Daniel LopezProfessor of EE at Penn State University, Scientist at NIST, Director Nanofab at MRI在 psu.edu 的电子邮件经过验证
- Alexander YulaevIonQ在 ionq.co 的电子邮件经过验证
- Roland RyfNokia Bell Labs在 nokia.com 的电子邮件经过验证
- Houxun MiaoGeneral Optics, LLC在 geneoptics.com 的电子邮件经过验证
- Marcelo DavancoNational Institute of Standards and Technology在 nist.gov 的电子邮件经过验证
- Herbert SheaEPFL在 epfl.ch 的电子邮件经过验证
- Andrea CentroneNational Institute of Standard and Technology在 nist.gov 的电子邮件经过验证
- Rafael KleimanMcMaster University在 mcmaster.ca 的电子邮件经过验证
- Yuxiang LiuAssociate Professor of Mechanical Engineering, Worcester Polytechnic Institute在 wpi.edu 的电子邮件经过验证
- Amit AgrawalUniversity of Cambridge在 cam.ac.uk 的电子邮件经过验证
- Jungsang KimDuke University在 duke.edu 的电子邮件经过验证
- Qing LiAssociate Professor in ECE @CMU在 andrew.cmu.edu 的电子邮件经过验证
- Paul Kolodner在 post.harvard.edu 的电子邮件经过验证
- Mingkang WangASML Holding在 asml.com 的电子邮件经过验证
- James WalkerBell Labs, Tellium, JayWalker Technical Consulting在 kbsolaw.com 的电子邮件经过验证
- Sangsik KimAssociate Professor of Electrical Engineering, Korea Advanced Institute of Science and Technology在 kaist.ac.kr 的电子邮件经过验证
- John KitchingFellow, National Institute of Standards and Technology在 nist.gov 的电子邮件经过验证