正在加载...
系统目前无法执行此操作,请稍后再试。
文章
个人学术档案
我的个人学术档案
我的图书馆
统计指标
快讯
设置
Get journal articles
Get journal articles
个人学术档案
我的个人学术档案
我的图书馆
Mark Biesinger
Surface Science Western, University of Western Ontario
在 uwo.ca 的电子邮件经过验证
被引用次数:27107
Surface Science
Surface Analysis
X-ray Photoelectron Spectroscopy
XPS
ToF-SIMS
Alain Brunelle
CNRS Research Director (DR1)
在 cnrs.fr 的电子邮件经过验证
被引用次数:9205
Mass Spectrometry
Mass Spectrometry Imaging
TOF-SIMS
Polyatomic Ion Sources
Zihua Zhu
Pacific Northwest National Laboratory (PNNL)
在 pnnl.gov 的电子邮件经过验证
被引用次数:9193
Secondary ion mass spectrometry (SIMS)
ToF-SIMS
NanoSIMS
William DA Rickard
John de Laeter Centre, Curtin University
在 curtin.edu.au 的电子邮件经过验证
被引用次数:6381
Nano/microanalysis
FIB-SEM
ToF-SIMS
Geopolymers
Geoscience
Michael Lee
Assistant Professor of Analytical Chemistry, Chemistry and Biochemistry, Northern Arizona …
在 nau.edu 的电子邮件经过验证
被引用次数:6149
collaborative interdisciplinary analytical …
surface chemistry
tof-sims
Xiao-Ying Yu
Oak Ridge National Laboratory
在 ornl.gov 的电子邮件经过验证
被引用次数:5062
imaging
kinetics
microfluidics
ToF-SIMS
aerosol
Paul Pigram
La Trobe University, Melbourne, Australia
在 latrobe.edu.au 的电子邮件经过验证
被引用次数:4791
Surface Science
Surface Analysis
ToF-SIMS
X-ray Photoelectron Spectroscopy
XPS
Daniel J. Graham
University of Washington
在 uw.edu 的电子邮件经过验证
被引用次数:4761
ToF-SIMS
imaging
multivariate analysis
PCA
MCR
Thomas P Beebe Jr
University of Delaware
在 udel.edu 的电子邮件经过验证
被引用次数:4120
surface chemistry
surface analysis
XPS
TOF-SIMS
Barry Brennan
Atlantic Technological University
在 atu.ie 的电子邮件经过验证
被引用次数:4016
Graphene
III-V semiconductors
XPS
ToF-SIMS
1 - 10
隐私权
条款
帮助
关于学术搜索
Google 搜索帮助