โปรไฟล์

Gerald jellison

Senior Scientist, Oak Ridge National Laboratory

ยืนยันอีเมลแล้วที่ ornl.gov

อ้างโดย16631

Ellipsometry thin films optical properties NMR of glasses

Juan Antonio Zapien

City Uniiversity of Hong Kong

ยืนยันอีเมลแล้วที่ cityu.edu.hk

อ้างโดย13194

Optical properties nanomaterials thin films ellipsometry nanophotonics

Hiroyuki Fujiwara

Gifu University

ยืนยันอีเมลแล้วที่ gifu-u.ac.jp

อ้างโดย11959

Solar cells Photovoltaics Ellipsometry Optical characterization

Maria Isabel Alonso

Institut de Ciència de Materials de Barcelona (ICMAB-CSIC)

ยืนยันอีเมลแล้วที่ icmab.es

อ้างโดย9145

Semiconductors Ellipsometry SERS FDTR MBE

Michele Magnozzi

Researcher

ยืนยันอีเมลแล้วที่ fisica.unige.it

อ้างโดย6012

Optical Materials Ellipsometry Thin films Optical coatings

Shiyuan Liu (刘世元)

Huazhong University of Science and Technology

ยืนยันอีเมลแล้วที่ hust.edu.cn

อ้างโดย5370

Ellipsometry Scatterometry Nanometrology Defect Inspection Thin Film Characterization

Alexandr Dejneka

Institute of Physics of the Czech Academy of Sciences

ยืนยันอีเมลแล้วที่ fzu.cz

อ้างโดย5341

optics biophysics thin films ellipsometry

Alain Diebold

University at Albany, SUNY

ยืนยันอีเมลแล้วที่ albany.edu

อ้างโดย5222

Characterization Metrology microscopy ellipsometry

Prof. Dr. Sofyan Taya

Islamic University of Gaza

ยืนยันอีเมลแล้วที่ iugaza.edu.ps

อ้างโดย5220

Optical waveguides Optical waveguide sensing Ellipsometry Dye-sensitized solar cells OLEDs

Martin Feneberg

Researcher, Otto von Guericke University Magdeburg

ยืนยันอีเมลแล้วที่ ovgu.de

อ้างโดย5036

semiconductor optics wide bandgap semiconductors III-nitrides ellipsometry Raman and luminescence

1 - 10