Peter J. de Groot

Процитировано

	Все	Начиная с 2019 г.
Статистика цитирования	13286	3514
h-индекс	58	28
i10-индекс	211	86

940

470

235

705

1993199419951996199719981999200020012002200320042005200620072008200920102011201220132014201520162017201820192020202120222023202441 37 56 66 72 131 127 135 160 145 222 359 345 433 569 719 678 461 922 647 500 550 585 523 590 530 637 580 612 621 571 490

Общий доступ

Просмотреть все

10 статей

0 статей

доступно

недоступно

На основе финансирования

Соавторы

Xavier Colonna de LegaZygo CorporationПодтвержден адрес электронной почты в домене zygo.com
Richard LeachUniversity of NottinghamПодтвержден адрес электронной почты в домене nottingham.ac.uk
Rong SuProfessor, Shanghai Institute of Optics and Fine Mechanics, CASПодтвержден адрес электронной почты в домене siom.ac.cn
Mark DavidsonSpectel Research Corp.Подтвержден адрес электронной почты в домене spectelresearch.com
Han HaitjemaKU LeuvenПодтвержден адрес электронной почты в домене kuleuven.be
Jack DiSciaccaZygo CorporationПодтвержден адрес электронной почты в домене ametek.com
Jeremy CouplandProfessor of Applied Optics, Loughborough UniversityПодтвержден адрес электронной почты в домене lboro.ac.uk
Carlos A. Gomez MorenoResearch Fellow, University of NottinghamПодтвержден адрес электронной почты в домене nottingham.ac.uk
Chandrasekhar or Chandra Roychoud...Reserach Professor, Physics Deaprtment, University of ConnecticutПодтвержден адрес электронной почты в домене uconn.edu
Adam ThompsonMember of Parliament for ErewashПодтвержден адрес электронной почты в домене parliament.uk
Jay DawsonLawrence Livermore National LaboratoryПодтвержден адрес электронной почты в домене llnl.gov
Gerd HäuslerRetired professor, Institute of Optics, University of ErlangenПодтвержден адрес электронной почты в домене fau.de

Peter J. de Groot

Zygo Corporation

Подтвержден адрес электронной почты в домене zygo.com

Optical metrology interferometry


Название По числу цитат По году По названию	Процитировано Процитировано	Год
Surface profiling by analysis of white-light interferograms in the spatial frequency domain P De Groot, L Deck Journal of modern optics 42 (2), 389-401, 1995	616	1995
High-speed noncontact profiler based on scanning white-light interferometry L Deck, P De Groot Applied optics 33 (31), 7334-7338, 1994	574	1994
Principles of interference microscopy for the measurement of surface topography P De Groot Advances in Optics and Photonics 7 (1), 1-65, 2015	435	2015
Three-dimensional imaging by sub-Nyquist sampling of white-light interferograms P de Groot, L Deck Optics letters 18 (17), 1462-1464, 1993	424	1993
Derivation of algorithms for phase-shifting interferometry using the concept of a data-sampling window P De Groot Applied optics 34 (22), 4723-4730, 1995	374	1995
Determination of fringe order in white-light interference microscopy P de Groot, X Colonna de Lega, J Kramer, M Turzhitsky Applied optics 41 (22), 4571-4578, 2002	315	2002
Ranging and velocimetry signal generation in a backscatter-modulated laser diode PJ de Groot, GM Gallatin, SH Macomber Applied optics 27 (21), 4475-4480, 1988	305	1988
Measurement of transparent plates with wavelength-tuned phase-shifting interferometry P De Groot Applied optics 39 (16), 2658-2663, 2000	275	2000
Vibration in phase-shifting interferometry PJ De Groot JOSA A 12 (2), 354-365, 1995	273	1995
Signal modeling for low-coherence height-scanning interference microscopy P de Groot, X Colonna de Lega Applied optics 43 (25), 4821-4830, 2004	241	2004
Method and system for profiling objects having multiple reflective surfaces using wavelength-tuning phase-shifting interferometry P de Groot US Patent 6,359,692, 2002	233	2002
Coherence scanning interferometry P De Groot Optical measurement of surface topography, 187-208, 2011	219*	2011
Method and apparatus for surface topography measurement by spatial-frequency analysis of interferograms P De Groot US Patent 5,398,113, 1995	210	1995
Profiling complex surface structures using scanning interferometry PJ De Groot, R Stoner, XC De Lega US Patent 7,271,918, 2007	185	2007
Interferometry method and system including spectral decomposition XC De Lega, P De Groot US Patent 7,636,168, 2009	169	2009
Infrared scanning interferometry apparatus and method XC De Lega, P De Groot, LL Deck US Patent 6,195,168, 2001	132	2001
Extending the unambiguous range of two-color interferometers PJ De Groot Applied optics 33 (25), 5948-5953, 1994	127	1994
Interpreting interferometric height measurements using the instrument transfer function P de Groot, XC de Lega Fringe 2005: The 5th International Workshop on Automatic Processing of …, 2006	125	2006
Interferometric optical systems having simultaneously scanned optical path length and focus PJ De Groot, XC De Lega, S Balasubramaniam US Patent 7,012,700, 2006	124	2006
Synthetic wavelength stabilization for two-color laser-diode interferometry P De Groot, S Kishner Applied Optics 30 (28), 4026-4033, 1991	118	1991

В данный момент система не может выполнить эту операцию. Повторите попытку позднее.

Статьи 1–20

Ссылок за год

Повторяющиеся цитирования

Объединенные цитирования

СоавторыСоавторы

Подписаться

Процитировано

Соавторы