Создать свой профиль
Процитировано
Все | Начиная с 2020 г. | |
---|---|---|
Статистика цитирования | 559 | 217 |
h-индекс | 9 | 8 |
i10-индекс | 8 | 5 |
Соавторы
Sunghyun Choi, Ph.D., FIEEEExecutive VP, Samsung ElectronicsПодтвержден адрес электронной почты в домене samsung.com
Jonghoe KooSamsung Research, Samsung ElectronicsПодтвержден адрес электронной почты в домене samsung.com
Changmok YangSeoul National UniversityПодтвержден адрес электронной почты в домене mwnl.snu.ac.kr
Seongwon KimResearch Engineer @SK TelecomПодтвержден адрес электронной почты в домене mwnl.snu.ac.kr
Hyoil KimProfessor, Dept. of EE, UNIST (Ulsan National Institute of Science and Technology)Подтвержден адрес электронной почты в домене unist.ac.kr
Yeonchul ShinПодтвержден адрес электронной почты в домене mwnl.snu.ac.kr
Kangjin YoonSamsung ResearchПодтвержден адрес электронной почты в домене mwnl.snu.ac.kr
Seongho ByeonSamsung ResearchПодтвержден адрес электронной почты в домене samsung.com
Jaehong YiПодтвержден адрес электронной почты в домене mwnl.snu.ac.kr
Подписаться

Weiping Sun
Samsung Research
Подтвержден адрес электронной почты в домене samsung.com - Главная страница