Niklas Hellgren

Процитировано

	Все	Начиная с 2020 г.
Статистика цитирования	4486	1154
h-индекс	35	18
i10-индекс	54	26

340

170

255

19992000200120022003200420052006200720082009201020112012201320142015201620172018201920202021202220232024202547 80 132 136 221 250 193 178 192 198 167 137 141 174 158 169 144 157 134 159 134 154 159 203 181 321 134

Общий доступ

Просмотреть все

7 статей

4 статьи

доступно

недоступно

На основе финансирования

Соавторы

Lars Hultman, Professor, PhDLinköping University, Department of Physics, IFMПодтвержден адрес электронной почты в домене ifm.liu.se
Esteban BroitmanSKF Research & Technology Development CenterПодтвержден адрес электронной почты в домене skf.com
Ivan PetrovMRL, Univ. of Illinois; Physics, Linköping UniversityПодтвержден адрес электронной почты в домене illinois.edu
Joe GreeneProfessor of Materials Science and Physics, University of IllinoisПодтвержден адрес электронной почты в домене uiuc.edu
Richard T. HaaschMaterials Research Laboratory, University of IllinoisПодтвержден адрес электронной почты в домене illinois.edu
Daniel GallProfessor, Materials Science and Engineering, Rensselaer Polytechnic InstituteПодтвержден адрес электронной почты в домене rpi.edu
Joerg PatscheiderEvatec AGПодтвержден адрес электронной почты в домене evatecnet.com
Sven StafströmLinköping UniversityПодтвержден адрес электронной почты в домене liu.se
Akane AguiJAEAПодтвержден адрес электронной почты в домене spring8.or.jp
Conny SåtheBeamline Scientist Max IV Laboratory, Lund UniversityПодтвержден адрес электронной почты в домене maxlab.lu.se
Joseph NordgrenUppsala UniversityПодтвержден адрес электронной почты в домене physics.uu.se
Jinghua GuoSenior Scientist, Lawrence Berkeley National LaboratoryПодтвержден адрес электронной почты в домене lbl.gov
hans agrenDepartment of Physics and Astronomy, Uppsala UniversityПодтвержден адрес электронной почты в домене physics.uu.se
Luo Yi - KTHProfessor of Theoretical Chemistry, Royal Institute of Technology, University of Science andПодтвержден адрес электронной почты в домене kth.se
Sveinn ÓlafssonResearch Professor Science Institute University of IcelandПодтвержден адрес электронной почты в домене hi.is
Taeyoon LeeProfessor of Electrical and Electronic Engineering, Yonsei UniversityПодтвержден адрес электронной почты в домене yonsei.ac.kr
Ivan IvanovConsiltantПодтвержден адрес электронной почты в домене polarsemi.com
Michael LögdlundResearch Coordinator, PhDПодтвержден адрес электронной почты в домене liu.se
Reine WallenbergProfessor of Solid State Chemistry, Lund UniversityПодтвержден адрес электронной почты в домене chem.lu.se
Kenneth JärrendahlLinköping UniversityПодтвержден адрес электронной почты в домене ifm.liu.se

Niklas Hellgren

Department Chair, Professor of Physics, Messiah University

Подтвержден адрес электронной почты в домене messiah.edu

Physics Thin Films Materials Characterization Spectroscopy


Название По числу цитат По году По названию	Процитировано Процитировано	Год
Role of nitrogen in the formation of hard and elastic CN x thin films by reactive magnetron sputtering N Hellgren, MP Johansson, E Broitman, L Hultman, JE Sundgren Physical Review B 59 (7), 5162, 1999	539	1999
Growth of poly- and single-crystal ScN on MgO(001): Role of low-energy irradiation in determining texture, microstructure evolution, and mechanical properties D Gall, I Petrov, N Hellgren, L Hultman, JE Sundgren, JE Greene Journal of Applied Physics 84 (11), 6034-6041, 1998	278	1998
Interpretation of X-ray photoelectron spectra of carbon-nitride thin films: New insights from in situ XPS N Hellgren, RT Haasch, S Schmidt, L Hultman, I Petrov Carbon 108, 242-252, 2016	236	2016
Cross-Linked Nano-onions of Carbon Nitride in the Solid Phase: Existence of a Novel Aza-Fullerene L Hultman, S Stafström, Z Czigány, J Neidhardt, N Hellgren, IF Brunell, ... Physical review letters 87 (22), 225503, 2001	227	2001
X-ray photoelectron spectroscopy of thin films G Greczynski, RT Haasch, N Hellgren, E Lewin, L Hultman Nature Reviews Methods Primers 3 (1), 40, 2023	192	2023
Vacancy hardening in single-crystal layers CS Shin, D Gall, N Hellgren, J Patscheider, I Petrov, JE Greene Journal of applied physics 93 (10), 6025-6028, 2003	186	2003
Carbon nitride nanotubulite–densely-packed and well-aligned tubular nanostructures K Suenaga, MP Johansson, N Hellgren, E Broitman, LR Wallenberg, ... Chemical Physics Letters 300 (5-6), 695-700, 1999	184	1999
Electronic structure of carbon nitride thin films studied by X-ray spectroscopy techniques N Hellgren, J Guo, Y Luo, C Såthe, A Agui, S Kashtanov, J Nordgren, ... Thin Solid Films 471 (1-2), 19-34, 2005	178	2005
Fullerene-like carbon nitride: a resilient coating material L Hultman, J Neidhardt, N Hellgren, H Sjöström, JE Sundgren MRS bulletin 28 (3), 194-202, 2003	153	2003
Growth, surface morphology, and electrical resistivity of fully strained substoichiometric epitaxial layers on MgO(001) CS Shin, S Rudenja, D Gall, N Hellgren, TY Lee, I Petrov, JE Greene Journal of Applied Physics 95 (1), 356-362, 2004	152	2004
Mechanical and tribological properties of CNx films deposited by reactive magnetron sputtering E Broitman, N Hellgren, O Wänstrand, MP Johansson, T Berlind, ... Wear 248 (1-2), 55-64, 2001	128	2001
Nitrogen bonding structure in carbon nitride thin films studied by soft x-ray spectroscopy N Hellgren, J Guo, C Såthe, A Agui, J Nordgren, Y Luo, H Ågren, ... Applied Physics Letters 79 (26), 4348-4350, 2001	123	2001
Development of preferred orientation in polycrystalline NaCl-structure δ-TaN layers grown by reactive magnetron sputtering: Role of low-energy ion surface interactions CS Shin, D Gall, YW Kim, N Hellgren, I Petrov, JE Greene Journal of applied physics 92 (9), 5084-5093, 2002	112	2002
Microstructure, mechanical properties, and wetting behavior of Si–C–N thin films grown by reactive magnetron sputtering T Berlind, N Hellgren, MP Johansson, L Hultman Surface and Coatings Technology 141 (2-3), 145-155, 2001	111	2001
Effect of chemical sputtering on the growth and structural evolution of magnetron sputtered CNx thin films N Hellgren, MP Johansson, E Broitman, P Sandström, L Hultman, ... Thin Solid Films 382 (1-2), 146-152, 2001	108	2001
Nitrogen 1s electron binding energy assignment in carbon nitride thin films with different structures WT Zheng, KZ Xing, N Hellgren, M Lögdlund, Å Johansson, U Gelivs, ... Journal of electron spectroscopy and related phenomena 87 (1), 45-49, 1997	97	1997
Predicted stability of a new aza [60] fullerene molecule, C48N12 S Stafström, L Hultman, N Hellgren Chemical physics letters 340 (3-4), 227-231, 2001	88	2001
Carbon nitride films on orthopedic substrates E Broitman, W Macdonald, N Hellgren, G Radnoczi, Z Czigány, ... Diamond and related materials 9 (12), 1984-1991, 2000	81	2000
Influence of plasma parameters on the growth and properties of magnetron sputtered thin films N Hellgren, K Macák, E Broitman, MP Johansson, L Hultman, ... Journal of Applied Physics 88 (1), 524-532, 2000	74	2000
Electrical and optical properties of films deposited by reactive magnetron sputtering E Broitman, N Hellgren, K Järrendahl, MP Johansson, S Olafsson, ... Journal of applied physics 89 (2), 1184-1190, 2001	70	2001

В данный момент система не может выполнить эту операцию. Повторите попытку позднее.

Статьи 1–20

Ссылок за год

Повторяющиеся цитирования

Объединенные цитирования

СоавторыСоавторы

Подписаться

Процитировано

Соавторы