Christoforos THEODOROU

Christoforos THEODOROU

IMEP-LAHC, Minatec, Grenoble INP
Подтвержден адрес электронной почты в домене minatec.inpg.fr
Цитируется: 1144
Device characterization Low-frequency noise Random Telegraph Noise
Mahfuzul Islam

Mahfuzul Islam

Institute of Science Tokyo
Подтвержден адрес электронной почты в домене m.isct.ac.jp
Цитируется: 658
Variability Modeling Random Telegraph Noise Temperature Sensor Digital LDO Flash ADC
Maurício Banaszeski da Silva

Maurício Banaszeski da Silva

UFRGS
Подтвержден адрес электронной почты в домене inf.ufrgs.br
Цитируется: 128
Random Telegraph Noise Low Frequency Noise Aging Effects Reliability of Integrated Circuits Device Modeling and Characteriza
Jereme Neuendank

Jereme Neuendank

Graduate Research Associate, Arizona State University
Подтвержден адрес электронной почты в домене asu.edu
Цитируется: 16
radiation effects radiation hardened microelectronics random telegraph noise random telegraph