JPR David

JPR David

University of Sheffield
Подтвержден адрес электронной почты в домене sheffield.ac.uk
Цитируется: 10501
Avalanche photodiodes impact ionization avalanche breakdown III-V semiconductors semiconductor characterisation
Haeju Choi

Haeju Choi

SAINT, SKKU
Подтвержден адрес электронной почты в домене skku.edu
Цитируется: 233
2D materials Impact ionization Steep-switching device Avalanche photodetector
Tae ho kang

Tae ho kang

Sungkyunkwan University
Цитируется: 55
2D material steep switching transistor impact ionization high-K dielectric/2D material interface …
Sam Tempel

Sam Tempel

Physics PhD Candidate, University of Illinois at Chicago
Подтвержден адрес электронной почты в домене uic.edu
Цитируется: 1
Compound semiconductors charge transport simulation impact ionization avalanche photodiodes