Joan Marc Rafí

Joan Marc Rafí

Instituto de Microelectrónica de Barcelona, IMB-CNM, CSIC, Científico Titular del CSIC
Подтвержден адрес электронной почты в домене csic.es
Цитируется: 21724
Electrical characterization Electrical Reliability Radiation effects Advanced CMOS devices Semiconductor radiation detectors
Abygael Viey

Abygael Viey

CEA
Цитируется: 133
Electrical Reliability Electrical Characterization MOSFET Microelectronics
Amran Mohd Selva

Amran Mohd Selva

Advanced Lightning, Power and Energy Research Centre, UPM
Подтвержден адрес электронной почты в домене student.upm.edu.my
Цитируется: 63
Transformer Diagnosis High Voltage Asset Management Electrical Reliability