Профили

Youngbin Lee

Korea Electronics Technology Institute

Подтвержден адрес электронной почты в домене keti.re.kr

Цитируется: 17478

Semiconductor reliability Device characterization Nanomaterials

Behrang H. Hamadani

National Institute of Standards and Technology

Подтвержден адрес электронной почты в домене nist.gov

Цитируется: 3829

photovoltaics wide bandgap materials device characterization physics defects in semiconductors

Abby R. Whittington

Virginia Tech

Подтвержден адрес электронной почты в домене vt.edu

Цитируется: 3341

Medical Devices Device Characterization Biobased Materials Degradable Polymers

Dominique Planson

Professeur des Universités, INSA de Lyon

Подтвержден адрес электронной почты в домене insa-lyon.fr

Цитируется: 2895

Wide Bandgap Semiconductor Device Characterization Device Design Silicon Carbide Gallium Nitride

Chih-Hung Chen

Professor, Dept. Electrical & Computer Engineering, McMaster University

Подтвержден адрес электронной почты в домене mcmaster.ca

Цитируется: 2891

Noise Modeling MOSFETs Low Noise Circuits Device Characterization

Xiaoye Qin

Intel

Цитируется: 2774

GaN HEMTs XPS Device Characterization

Erik Johnson

LPICM CNRS Ecole Polytechnique

Подтвержден адрес электронной почты в домене polytechnique.edu

Цитируется: 2192

Photovoltaics plasma processing optoelectronics device characterization RF engineering

Kwan H. Lee

UQ Postdoctoral Research Fellow, University of Queensland

Подтвержден адрес электронной почты в домене physics.uq.edu.au

Цитируется: 2075

Organic Electronics Organic Solar Cells Device Fabrication Device Characterization Ultrafast Spectroscopy

Michael E Ramon

The University of Texas at Austin

Подтвержден адрес электронной почты в домене utexas.edu

Цитируется: 1395

Nanoelectronics Nanofabrication Device Characterization

Dr. Yun Seop Yu

Hankyong National University

Подтвержден адрес электронной почты в домене hknu.ac.kr

Цитируется: 1340

Device modeling for circuit simulation Device characterization

1 - 10