Ramakrishna Vetury

Ramakrishna Vetury

Akoustis
Подтвержден адрес электронной почты в домене akoustis.com
Цитируется: 5542
AlScN AlN RF electronics resonators BAW
Huaihao Chen

Huaihao Chen

Engineer, Skyworks Solution
Цитируется: 2320
BAW Magnetoelectric Material Antenna
Thomas Berer

Thomas Berer

Qorvo Inc
Подтвержден адрес электронной почты в домене berer.org
Цитируется: 2068
BAW Physical Acoustics Photoacoustic Imaging Laser Ultrasound Fluorescence Microscopy
Craig Moe

Craig Moe

Akoustis Technologies
Подтвержден адрес электронной почты в домене akoustis.com
Цитируется: 1789
AlN AlScN MOCVD BAW RF filters
Motoaki Hara

Motoaki Hara

Fujitsu Lab., Taiyoyuden, Tohoku University, NICT
Подтвержден адрес электронной почты в домене nict.go.jp
Цитируется: 1719
MEMS BAW Filter Oscillator Sensor
Pen-Li (Ben) Yu

Pen-Li (Ben) Yu

Wireless Semiconductor Division, Broadcom Inc
Подтвержден адрес электронной почты в домене broadcom.com
Цитируется: 1608
Multi-physics modeling BAW RF Optomechanics MEMS
Vijay Kondalkar

Vijay Kondalkar

Postdoctoral Researcher, IFW, Dresden, Germany
Подтвержден адрес электронной почты в домене ifw-dresden.de
Цитируется: 1376
Micro/nano Fabrications BAW SAW MEMS Sensors & actuators Electrochromic
Masashi Suzuki

Masashi Suzuki

University of Yamanashi
Подтвержден адрес электронной почты в домене yamanashi.ac.jp
Цитируется: 759
Piezo film BAW SAW SMR Polarization control
Abhay Kochhar

Abhay Kochhar

Consultant
Подтвержден адрес электронной почты в домене ieee.org
Цитируется: 734
Piezoelectric devices BAW SAW MEMS Integrated CMOS-MEMS
Usama Zaghloul (Heiba)

Usama Zaghloul (Heiba)

Broadcom
Подтвержден адрес электронной почты в домене teorigin.com
Цитируется: 691
BAW MEMS CMOS-MEMS integration Nanoscale material characterization Scanning probe microscopy
1 - 10