Joan Marc Rafí

Joan Marc Rafí

Instituto de Microelectrónica de Barcelona, IMB-CNM, CSIC, Científico Titular del CSIC
Подтвержден адрес электронной почты в домене csic.es
Цитируется: 21724
Electrical characterization Electrical Reliability Radiation effects Advanced CMOS devices Semiconductor radiation detectors
Li Zhonghua

Li Zhonghua

Research Fellow @ National University of Singapore
Подтвержден адрес электронной почты в домене nus.edu.sg
Цитируется: 10
Advanced CMOS Devices 2-D Materials and Devices