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Citações | 20135 | 3510 |
Índice h | 74 | 32 |
Índice i10 | 236 | 77 |
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Coautores
G J ShifletProfessor of Materials Science, University of VirginiaEmail confirmado em virginia.edu
Terry TrittProfessor of Physics, Clemson UniversityEmail confirmado em g.clemson.edu
William L. JohnsonCalifornia Institute of TechnologyEmail confirmado em caltech.edu
Takeshi EgamiProfessor of Materials Science and Physics, University of TennesseeEmail confirmado em utk.edu
Jack SimonsonFarmingdale State CollegeEmail confirmado em farmingdale.edu
Wenjie XieTechnische Universität DarmstadtEmail confirmado em mr.tu-darmstadt.de
SA WolfUniversity of VirginiaEmail confirmado em virginia.edu
Despina LoucaProfessor of Physics, University of VirginiaEmail confirmado em virginia.edu
Jian HeClemson UniversityEmail confirmado em clemson.edu
Mircea R. StanVirginia Microelectronics Consortium (VMEC) Professor, University of VirginiaEmail confirmado em virginia.edu
J GopalakrishnanSolid State and structural Chemistry Unit, Indian Institute of Science, Bangalore, IndiaEmail confirmado em iisc.ac.in
Di WuShaanxi Normal University/Southern University of Science and Technology/University of VirginiaEmail confirmado em snnu.edu.cn
Xinfeng Tang (唐新峰)Wuhan University of TechnologyEmail confirmado em whut.edu.cn
Dmytro ApalkovSr. Principal Engineer/Sr. Director, Modeling, Samsung Semiconductor R&DEmail confirmado em samsung.com
anke weidenkaffTU DarmstadtEmail confirmado em mr.tu-darmstadt.de
Rama VenkatasubramanianJohns Hopkins University Applied Physics LabEmail confirmado em jhuapl.edu
Jiwei LuAFOSR