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Índice h | 40 | 22 |
Índice i10 | 84 | 50 |
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Coautores
SA WolfUniversity of VirginiaEmail confirmado em virginia.edu
Kevin Schoor-WestAerospace & DefenseEmail confirmado em ngc.com
Mengkun LiuStony Brook University, Department of Physics and AstronomyEmail confirmado em stonybrook.edu
Mircea R. StanVirginia Microelectronics Consortium (VMEC) Professor, University of VirginiaEmail confirmado em virginia.edu
Ale LukaszewNational Science FoundationEmail confirmado em wm.edu
Ryan ComesUniversity of Delaware, Department of Materials Science and EngineeringEmail confirmado em udel.edu
Gu, Man "Mandy"PhD, University of VirginiaEmail confirmado em virginia.edu
Cassandra FraserUniversity of VirginiaEmail confirmado em virginia.edu
S. Joseph PoonUniversity of VirginiaEmail confirmado em virginia.edu
Irina NovikovaDepartment of Physics, College of William and MaryEmail confirmado em physics.wm.edu
Tim MewesDepartment of EnergyEmail confirmado em ieee.org
Elsa AbreuETH ZürichEmail confirmado em phys.ethz.ch
Wenjing YinAllen Institute for Brain ScienceEmail confirmado em virginia.edu
Elizabeth RadueUniversity of Wisconsin Eau-ClaireEmail confirmado em uwec.edu
avik W ghoshProfessor, University of Virginia, Electrical EngineeringEmail confirmado em virginia.edu
Dmytro ApalkovSr. Principal Engineer/Sr. Director, Modeling, Samsung Semiconductor R&DEmail confirmado em samsung.com
Daniel LottisSelfEmail confirmado em ieee.org
Vladimir NikitinSamsung Semiconductor Inc.Email confirmado em samsung.com