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Índice h | 20 | 10 |
Índice i10 | 34 | 11 |
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Com base em autorizações de financiamento
Coautores
Luci PirmezPesquisador do PPGI Universidade Federal do Rio de JaneiraEmail confirmado em nce.ufrj.br
Raphael MachadoInmetroEmail confirmado em inmetro.gov.br
Flavia DelicatoAssociate Professor at the Fluminense Federal UniversityEmail confirmado em ic.uff.br
Davidson BoccardoHospital Israelita Albert EinsteinEmail confirmado em einstein.br
Paulo F. PiresDell Technologies & Associate Professor of Computer Science, Fluminense Federal University (UFF)Email confirmado em dell.com
Claudio Miceli de FariasProfessor at Instituto Tércio Paccitti de Pesquisas e Aplicações Computacionais and Programa deEmail confirmado em cos.ufrj.br
Charles PradoNational Institute of Metrology, Quality and TechnologyEmail confirmado em inmetro.gov.br
Alan Oliveira de SáLASIGE, Departamento de Informática, Faculdade de Ciências, Universidade de LisboaEmail confirmado em di.fc.ul.pt
Wilson S. Melo JrResearcher at the Brazilian National Institute of Metrology, Quality, and Technology (Inmetro)Email confirmado em inmetro.gov.br
Igor Leão dos Santos MontesProfessor, CEFET/RJEmail confirmado em cefet-rj.br
José F. de RezendeUniversidade Federal do Rio de JaneiroEmail confirmado em land.ufrj.br
Alysson BessaniLASIGE, Dep. de Informática, Faculdade de Ciências da Universidade de LisboaEmail confirmado em ciencias.ulisboa.pt
Silvana RossettoUniversidade Federal do Rio de JaneiroEmail confirmado em dcc.ufrj.br
Roberta Lima GomesUniversidade Federal do Espírito SantoEmail confirmado em inf.ufes.br
Rafael de Oliveira CostaFederal Institute of Rio de Janeiro (IFRJ)Email confirmado em cos.ufrj.br
Fábio ProttiFull Professor, Fluminense Federal UniversityEmail confirmado em ic.uff.br
Rosembergue Pereira de SouzaInstituto Nacional de Metrologia, Qualidade e TecnologiaEmail confirmado em ppgi.ufrj.br
Pierre de Saqui-SannesISAE-SUPAEROEmail confirmado em isae-supaero.fr
Dhananjay AnandJHU, NISTEmail confirmado em jh.edu
Victoria Yan PillitteriNISTEmail confirmado em nist.gov