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Coautores
- Xuyu WangAssistant Professor of Computer Science, Florida International UniversityE-mail confirmado em fiu.edu
- Min Chen, FIEEEIEEE Fellow, IET Fellow, AAIA Fellow, Highly Cited ResearcherE-mail confirmado em ieee.org
- Thomas HouBradley Distinguished Professor, IEEE Fellow, Virginia Tech, USAE-mail confirmado em vt.edu
- Victor C. M. LeungShenzhen University / The University of British ColumbiaE-mail confirmado em ieee.org
- Mingjie FengHuazhong University of Science and TechnologyE-mail confirmado em auburn.edu
- Scott F. MidkiffVirginia TechE-mail confirmado em vt.edu
- Tao JiangHuazhong University of Science and TechnologyE-mail confirmado em ieee.org
- Yingsong HuangPh.D., Auburn UniversityE-mail confirmado em auburn.edu
- Hanif D. SheraliVirginia TechE-mail confirmado em vt.edu
- Sastry KompellaU.S. Naval Research LaboratoryE-mail confirmado em vt.edu
- Yi XuAmazon.comE-mail confirmado em amazon.com
- Yu WangPh.D. in Department of Electrical and Computer Engineering, Auburn UniversityE-mail confirmado em auburn.edu
- Xiangyu WangAuburn UniversityE-mail confirmado em auburn.edu
- Yao WangProfessor, New York University, Tandon School of EngineeringE-mail confirmado em nyu.edu
- Jeffrey ReedProfessor of Electrical and Computer EngineeringE-mail confirmado em vt.edu
- Zhifeng HePh.D student, Auburn UniversityE-mail confirmado em auburn.edu
- Prathima AgrawalProfessor of electrical and computer engineeringE-mail confirmado em auburn.edu
- Xiaolin ChengHomeE-mail confirmado em ericsson.com
- Yunhao LiuACM Fellow, IEEE Fellow, CCF Fellow, Tsinghua UniversityE-mail confirmado em tsinghua.edu.cn
- Zhefeng JiangPhd student at Auburn UniversityE-mail confirmado em auburn.edu
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Shiwen Mao
Professor and Earle C. Williams Eminent Scholar, Fellow of the IEEE, Dept. ECE, Auburn University
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