Utwórz swój profil
Cytowane przez
Wszystkie | Od 2020 | |
---|---|---|
Cytowania | 5140 | 1599 |
h-indeks | 30 | 15 |
i10-indeks | 75 | 24 |
Dostęp publiczny
Wyświetl wszystko2 artykuły
0 artykułów
dostępne
niedostępne
Objęte finansowaniem
Współautorzy
Dmytro ApalkovSr. Principal Engineer/Sr. Director, Modeling, Samsung Semiconductor R&DZweryfikowany adres z samsung.com
Alexey KhvalkovskiyMoscow Institute of Physics and Technology, State UniversityZweryfikowany adres z phystech.edu
Daniel LottisSelfZweryfikowany adres z ieee.org
Nitin SamarthVerne M. Willaman Professor of Physics, Professor of Materials Science/Engineering, Penn StateZweryfikowany adres z psu.edu
Jeremy LevyUniversity of PittsburghZweryfikowany adres z levylab.org
Paul A. CrowellUniversity of MinnesotaZweryfikowany adres z umn.edu
Tim MewesDepartment of EnergyZweryfikowany adres z ieee.org
SA WolfUniversity of VirginiaZweryfikowany adres z virginia.edu
avik W ghoshProfessor, University of Virginia, Electrical EngineeringZweryfikowany adres z virginia.edu
Mircea R. StanVirginia Microelectronics Consortium (VMEC) Professor, University of VirginiaZweryfikowany adres z virginia.edu
S. Joseph PoonUniversity of VirginiaZweryfikowany adres z virginia.edu
Thibaut DevolderCentre de Nanosciences et de Nanotechnologies (Orsay, France)Zweryfikowany adres z u-psud.fr
Jay A. Guptaohio state university, professor of physicsZweryfikowany adres z physics.osu.edu
Jiwei LuAFOSR