Utwórz swój profil
Cytowane przez
Wszystkie | Od 2020 | |
---|---|---|
Cytowania | 20135 | 3510 |
h-indeks | 74 | 32 |
i10-indeks | 236 | 77 |
Dostęp publiczny
Wyświetl wszystko22 artykuły
3 artykuły
dostępne
niedostępne
Objęte finansowaniem
Współautorzy
G J ShifletProfessor of Materials Science, University of VirginiaZweryfikowany adres z virginia.edu
Terry TrittProfessor of Physics, Clemson UniversityZweryfikowany adres z g.clemson.edu
William L. JohnsonCalifornia Institute of TechnologyZweryfikowany adres z caltech.edu
Takeshi EgamiProfessor of Materials Science and Physics, University of TennesseeZweryfikowany adres z utk.edu
Jack SimonsonFarmingdale State CollegeZweryfikowany adres z farmingdale.edu
Wenjie XieTechnische Universität DarmstadtZweryfikowany adres z mr.tu-darmstadt.de
SA WolfUniversity of VirginiaZweryfikowany adres z virginia.edu
Despina LoucaProfessor of Physics, University of VirginiaZweryfikowany adres z virginia.edu
Jian HeClemson UniversityZweryfikowany adres z clemson.edu
Mircea R. StanVirginia Microelectronics Consortium (VMEC) Professor, University of VirginiaZweryfikowany adres z virginia.edu
J GopalakrishnanSolid State and structural Chemistry Unit, Indian Institute of Science, Bangalore, IndiaZweryfikowany adres z iisc.ac.in
Di WuShaanxi Normal University/Southern University of Science and Technology/University of VirginiaZweryfikowany adres z snnu.edu.cn
Xinfeng Tang (唐新峰)Wuhan University of TechnologyZweryfikowany adres z whut.edu.cn
Dmytro ApalkovSr. Principal Engineer/Sr. Director, Modeling, Samsung Semiconductor R&DZweryfikowany adres z samsung.com
anke weidenkaffTU DarmstadtZweryfikowany adres z mr.tu-darmstadt.de
Rama VenkatasubramanianJohns Hopkins University Applied Physics LabZweryfikowany adres z jhuapl.edu
Jiwei LuAFOSR