Rouwaida Kanj

צוטט על ידי

	הכל	מאז 2020
ציטוטים ביבליוגרפיים	2849	993
H-index	23	14
i10-index	51	16

300

150

225

200720082009201020112012201320142015201620172018201920202021202220232024202525 45 58 100 73 106 141 199 189 291 195 192 212 174 185 211 172 207 40

גישה ציבורית

הצג הכל

2 מאמרים

זמין

לא זמין

על סמך ייפוי כח מהמממנים

מחברים משותפים

Sani NassifRadyalis LLCכתובת אימייל מאומתת בדומיין radyalis.com
Joseph CostantineAmerican University of Beirutכתובת אימייל מאומתת בדומיין aub.edu.lb
Assaad A. EIDAssociate Professor - American University of Beirut, Faculty of Medicineכתובת אימייל מאומתת בדומיין aub.edu.lb
Youssef Antoine TawkAssociate Professor, American University of Beirutכתובת אימייל מאומתת בדומיין aub.edu.lb
Ali H. RamadanFahad Bin Sultan Universityכתובת אימייל מאומתת בדומיין ieee.org
Ahmed EltawilProfessor of Electrical and Computer Engineering, King Abdullah University of Science and Technologyכתובת אימייל מאומתת בדומיין kaust.edu.sa
Ali ChehabProfessor & Chair of ECE Department, American University of Beirutכתובת אימייל מאומתת בדומיין aub.edu.lb
Jessica HannaPhD in Biomedical Engineering, American University Of Beirutכתובת אימייל מאומתת בדומיין mail.aub.edu
Mohammed E. Foudaכתובת אימייל מאומתת בדומיין ieee.org
Fadi KurdahiProfessor of EECS, University of California, Irvineכתובת אימייל מאומתת בדומיין uci.edu
Ayman KayssiProfessor of Electrical and Computer Engineering, American University of Beirutכתובת אימייל מאומתת בדומיין aub.edu.lb
Zhuo LiSoftware Engineering Director, Cadenceכתובת אימייל מאומתת בדומיין cadence.com
Carl RadensIBM Researchכתובת אימייל מאומתת בדומיין ibm.com
Fa WangCarnegie Mellon Universityכתובת אימייל מאומתת בדומיין andrew.cmu.edu
Shupeng SunCarnegie Mellon Universityכתובת אימייל מאומתת בדומיין cmu.edu
Wangyang (Lucas) ZhangCadence Design Systems, Pittsburgh, PAכתובת אימייל מאומתת בדומיין cadence.com
Chenjie GuDeepMindכתובת אימייל מאומתת בדומיין google.com
Lama ShaerPhD Student, American University of Beirutכתובת אימייל מאומתת בדומיין mail.aub.edu
Kim BarakaVrije Universiteit Amsterdamכתובת אימייל מאומתת בדומיין vu.nl
Fadi A ZaraketAmerican University of Beirutכתובת אימייל מאומתת בדומיין aub.edu.lb

עקוב אחר

Rouwaida Kanj

Synopsys Inc, American University of Beirut

כתובת אימייל מאומתת בדומיין synopsys.com

Design for Manufacturability Reliability and Yield Statistical Analysis and Modeling Electronic


כותרת מיון לפי ציטוט ביבליוגרפי מיון לפי שנה מיון לפי כותרת	צוטט על ידי צוטט על ידי	שנה
Mixture importance sampling and its application to the analysis of SRAM designs in the presence of rare failure events‏ R Kanj, R Joshi, S Nassif‏ Proceedings of the 43rd annual Design Automation Conference, 69-72, 2006‏	419	2006
Low cost arduino/android-based energy-efficient home automation system with smart task scheduling‏ K Baraka, M Ghobril, S Malek, R Kanj, A Kayssi‏ 2013 Fifth international conference on computational intelligence …, 2013‏	231	2013
Document retrieval using internal dictionary-hierarchies to adjust per-subject match results‏ AE Gattiker, FH Gebara, AN Hylick, RN Kanj‏ US Patent 9,235,638, 2016‏	182	2016
Noninvasive, wearable, and tunable electromagnetic multisensing system for continuous glucose monitoring, mimicking vasculature anatomy‏ J Hanna, M Bteich, Y Tawk, AH Ramadan, B Dia, FA Asadallah, A Eid, ...‏ Science Advances 6 (24), eaba5320, 2020‏	153	2020
Method and computer program for efficient cell failure rate estimation in cell arrays‏ RV Joshi, RN Kanj, SR Nassif‏ US Patent 7,380,225, 2008‏	132	2008
Bayesian model fusion: large-scale performance modeling of analog and mixed-signal circuits by reusing early-stage data‏ F Wang, W Zhang, S Sun, X Li, C Gu‏ Proceedings of the 50th Annual Design Automation Conference, 1-6, 2013‏	122	2013
Methodology for correlated memory fail estimations‏ RV Joshi, RN Kanj, SR Nassif‏ US Patent 8,214,190, 2012‏	112	2012
In-situ design method and system for improved memory yield‏ RV Joshi, R Kanj‏ US Patent 8,170,857, 2012‏	105	2012
The impact of aging effects and manufacturing variation on SRAM soft-error rate‏ EH Cannon, AJ KleinOsowski, R Kanj, DD Reinhardt, RV Joshi‏ IEEE Transactions on Device and Materials Reliability 8 (1), 145-152, 2008‏	73	2008
A novel column-decoupled 8T cell for low-power differential and domino-based SRAM design‏ RV Joshi, R Kanj, V Ramadurai‏ IEEE Transactions on Very Large Scale Integration (VLSI) Systems 19 (5), 869-882, 2010‏	60	2010
Cross layer error exploitation for aggressive voltage scaling‏ AK Djahromi, AM Eltawil, FJ Kurdahi, R Kanj‏ 8th International Symposium on Quality Electronic Design (ISQED'07), 192-197, 2007‏	59	2007
Feature extraction that supports progressively refined search and classification of patterns in a semiconductor layout‏ DL DeMaris, RN Kanj, DN Maynard, MD Monkowski‏ US Patent App. 11/765,473, 2008‏	52	2008
Non-invasive biological, chemical markers and tracers monitoring device in blood including glucose monitoring using adaptive RF circuits and antenna design‏ J Costantine, R Kanj, A Eid‏ US Patent 11,197,612, 2021‏	45	2021
System-level SRAM yield enhancement‏ FJ Kurdahi, AM Eltawil, YH Park, RN Kanj, SR Nassif‏ 7th International Symposium on Quality Electronic Design (ISQED'06), 6 pp.-184, 2006‏	40	2006
A disturb decoupled column select 8T SRAM cell‏ V Ramadurai, R Joshi, R Kanj‏ 2007 IEEE Custom Integrated Circuits Conference, 25-28, 2007‏	38	2007
Wearable flexible body matched electromagnetic sensors for personalized non-invasive glucose monitoring‏ J Hanna, Y Tawk, S Azar, AH Ramadan, B Dia, E Shamieh, S Zoghbi, ...‏ Scientific Reports 12 (1), 14885, 2022‏	35	2022
A thermal and process variation aware MTJ switching model and its applications in soft error analysis‏ P Wang, W Zhang, R Joshi, R Kanj, Y Chen‏ Proceedings of the International Conference on Computer-Aided Design, 720-727, 2012‏	35	2012
FinFET SRAM design‏ R Joshi, K Kim, R Kanj‏ Nanoelectronic Circuit Design, 55-95, 2011‏	33	2011
Identity based key distribution framework for link layer security of AMI networks‏ V Seferian, R Kanj, A Chehab, A Kayssi‏ IEEE Transactions on Smart Grid 9 (4), 3166-3179, 2016‏	28	2016
Statistical exploration of the dual supply voltage space of a 65nm PD/SOI CMOS SRAM cell‏ R Joshi, R Kanj, S Nassif, D Plass, Y Chan‏ 2006 European Solid-State Device Research Conference, 315-318, 2006‏	27	2006

המערכת אינה יכולה לבצע את הפעולה כעת. נסה שוב מאוחר יותר.

מאמרים 1–20

ציטוטים ביבליוגרפיים בשנה

ציטוטים ביביליוגרפיים כפולים

ציטוטים ביביליוגרפיים שמוזגו

הוסף מחברים שותפיםמחברים משותפים

עקוב אחר

צוטט על ידי

מחברים משותפים