פרופילים

Charlie Kong

Senior Research Officer, University of New South Wales

כתובת אימייל מאומתת בדומיין unsw.edu.au

צוטט על ידי 7240

Materials Science Electron Microscopy Focused Ion Beam

Ian MacLaren

University of Glasgow, School of Physics and Astronomy

כתובת אימייל מאומתת בדומיין glasgow.ac.uk

צוטט על ידי 5564

Electron Microscopy Nanostructure Electron Energy Loss Spectroscopy Direct Electron Detectors Focused Ion Beam

Yuval Greenzweig

None

צוטט על ידי 4877

planetary science Semiconductor technology circuit edit focused ion beam

Braulio Archanjo

National Institute of Metrology, Quality and Technology of Brazil

כתובת אימייל מאומתת בדומיין inmetro.gov.br

צוטט על ידי 4597

Nanometrology Electron Microscopy Atomic Force Microscopy Nanofabrication Focused Ion Beam

Philip Moll

Max-Planck-Institute for the Structure and Dynamics of Matter, Hamburg, Germany

כתובת אימייל מאומתת בדומיין mpsd.mpg.de

צוטט על ידי 4575

Topological semi-metals Superconductivity correlated electrons Focused Ion Beam

Christian Boit

Professor für Halbleiterbauelemente, TU Berlin

כתובת אימייל מאומתת בדומיין tu-berlin.de

צוטט על ידי 4344

optical interactions of electronic devices focused ion beam

David C Cox

Principal Research Fellow, University of Surrey

כתובת אימייל מאומתת בדומיין surrey.ac.uk

צוטט על ידי 4291

Focused ion beam Nanofabrication

Lifei Xi

FACTS@Nanyang Technological University

כתובת אימייל מאומתת בדומיין ntu.edu.sg

צוטט על ידי 4092

Catalyst Nanoparticle-plant interaction Novel Materials Focused Ion Beam TEM

Jonathan Simon Barnard

Electron Microscopy Facility Manager, Rosalind Franklin Institute

כתובת אימייל מאומתת בדומיין rfi.ac.uk

צוטט על ידי 3667

electron microscopy focused ion beam

Markus Becherer

Technische Universtität München, TUM

כתובת אימייל מאומתת בדומיין tum.de

צוטט על ידי 3647

semiconductors chip-based sensors micormagnetics novel fabrication technology focused-ion-beam

1 - 10