פרופילים

Cheng-Wen Wu 吳誠文

Department of Electrical Engineering, National Tsing Hua University

כתובת אימייל מאומתת בדומיין ee.nthu.edu.tw

צוטט על ידי 8773

VLSI Testing Memory Testing Design for Testability

André Ivanov

Electrical and Computer Engineering, University of British Columbia

כתובת אימייל מאומתת בדומיין ece.ubc.ca

צוטט על ידי 6379

Design for Testability VLSI Design & Test VLSI Reliability Electronic Design Automation

Paolo PRINETTO

Professor of Computer Engineering, Politecnico di Torino, Torino (Italy)

כתובת אימייל מאומתת בדומיין polito.it

צוטט על ידי 5826

Digital Systems Design & Test System Dependability Design-for-Testability Built-in Self Test & Built-in Self Repair … Reconfigurable System Design

Jacob Savir

Distinguished Professor, NJIT

כתובת אימייל מאומתת בדומיין njit.edu

צוטט על ידי 5436

Digital Test Design for Testability

Kenneth Butler

Advantest

כתובת אימייל מאומתת בדומיין ieee.org

צוטט על ידי 3201

Data analytics semiconductor test and reliability design for testability

Stephen Sunter

Engineering Director, Mixed-signal DFT, Siemens EDA

כתובת אימייל מאומתת בדומיין siemens.com

צוטט על ידי 3126

Design-for-testability Built-in self-test Mixed-signal IC design

Herman Vermaak

Head of School: Engineering and Architecture, STADIO Higher Education

כתובת אימייל מאומתת בדומיין stadio.ac.za

צוטט על ידי 1973

Smart Manufacturing Process Automation Design for Testability Renewable Energy Technologies

Sanghyeon (Sang) Baeg

Hanyang University (Ansan, S.Korea)

כתובת אימייל מאומתת בדומיין hanyang.ac.kr

צוטט על ידי 1811

Radiation Effects Memory Design/Test Design For Testability ASIC Design

Hao-Chiao Hong

National Yang Ming Chiao Tung University

כתובת אימייל מאומתת בדומיין nycu.edu.tw

צוטט על ידי 878

analog test design-for-testability BIST

Dr. Achintya Halder

Texas Instruments Inc; Ex-Assistant Professor at IIT Kharagpur

כתובת אימייל מאומתת בדומיין ece.iitkgp.ernet.in

צוטט על ידי 799

VLSI Circuits and Systems Analog & RF Circuits Design For Testability Low-power Wireless Communication System-level testing

1 - 10