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Coautori
- Henning HeuerProf. Dr.-Ing., TU Dresden, Fraunhofer IKTS DresdenEmail verificata su ikts.fraunhofer.de
- Bernd KöhlerSenior Scientist, Matrial Diagnostics, Fraunhofer IKTSEmail verificata su ikts.fraunhofer.de
- Klaus-Juergen WolterProfessor für Verfahrenstechnologie der Elektronik, TU DresdenEmail verificata su tu-dresden.de
- Udo NetzelmannFraunhofer Institute for Nondestructive TestingEmail verificata su izfp.fraunhofer.de
- Gerd DobmannScience NDTEmail verificata su dozent.di-uni.de
- Martin OppermannTechnische Universität DresdenEmail verificata su zmp.et.tu-dresden.de
- Issa HakimPh.DEmail verificata su purdue.edu
- Kopycinska Mueller, MalgorzataIKTS-MDEmail verificata su ikts-md.fraunhofer.de
- Jürgen SchreiberFraunhofer-Institut IKTS-MDEmail verificata su ikts-extern.fraunhofer.de
- Leonard J. BondProfessor, Iowa State UniversityEmail verificata su iastate.edu
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Norbert G Meyendorf
Professor Materials Engineering, University of Dayton
Email verificata su udayton.edu