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Coautori
- Nicolas GrandjeanInstitute of Physics, EPFLEmail verificata su epfl.ch
- Eric FeltinnovaganEmail verificata su novagan.com
- Gabriel ChristmannCSEM SAEmail verificata su csem.ch
- Jeremy J. BaumbergProfessor of NanoScience, University of CambridgeEmail verificata su cam.ac.uk
- Antonino CastigliaEXALOSEmail verificata su exalos.com
- Georg RossbachOSRAM Opto Semiconductors GmbH, Regensburg, GermanyEmail verificata su osram-os.com
- Mauro MoscaDepartment of Engineering, University of Palermo, viale delle Scienze, Bdg. 9 - I90128 PalermoEmail verificata su unipa.it
- Alexey KavokinProfessor, University of SouthamptonEmail verificata su soton.ac.uk
- Marc IlegemsProfessor, EPFLEmail verificata su epfl.ch
- DORSAZ JEPFLEmail verificata su epfl.ch
- M S SkolnickProfessor of Physics, University of SheffieldEmail verificata su sheffield.ac.uk
- Gwénolé JacopinInstitut Néel - CNRS, Univ. Grenoble Alpes, FranceEmail verificata su epfl.ch
- Gatien CosendeySenior Staff Engineer, ams International AGEmail verificata su ams.com
- Giorgio Baldassarri Höger Von Högers...S&P Global Market IntelligenceEmail verificata su spglobal.com
- Stavros ChristopoulosAssociate Professor, SUADEmail verificata su sorbonne.ae
- Pavlos LagoudakisSkolkovo Institute of Science & TechnologyEmail verificata su polaritonics.org
- Gordon CallsenUniversity of Bremen, Institute of Solid State PhysicsEmail verificata su ifp.uni-bremen.de
- Noelia Vico TriviñoResearcher at IBM-Research ZurichEmail verificata su zurich.ibm.com
- Benoit DeveaudVice Provost Research Ecole Polytechnique PalaiseauEmail verificata su polytechnique.edu
- Camille HallerPhD student, École polytechnique fédérale de Lausanne (EPFL)Email verificata su epfl.ch