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Coautori
- Imran MahboobNTT Basic Research LabsEmail verificata su lab.ntt.co.jp
- Yoshiro HirayamaTohoku University & QSTEmail verificata su tohoku.ac.jp
- Katsuhiko NishiguchiNTT Basic Research LaboratoriesEmail verificata su ntt.com
- Daiki HATANAKANTT Basic Research LaboratoriesEmail verificata su hco.ntt.co.jp
- Hiroki HibinoKwansei Gakuin UniversityEmail verificata su kwansei.ac.jp
- Akira FujiwaraNTTEmail verificata su lab.ntt.co.jp
- Hiroyuki KageshimaShimane UniversityEmail verificata su riko.shimane-u.ac.jp
- Shiro SaitoNTT Basic Research LaboratoriesEmail verificata su ntt.com
- yuichiro matsuzakiChuo UniversityEmail verificata su g.chuo-u.ac.jp
- William John MunroOISTEmail verificata su oist.jp
- Hiraku ToidaNTT Basic Research LaboratoriesEmail verificata su lab.ntt.co.jp
- Motoki AsanoNTT Basic Research LaboratoriesEmail verificata su lab.ntt.co.jp
- Edward Yi changNational Chico Tung universityEmail verificata su mail.nctu.edu.tw
- Ryuichi OhtaNTT Basic Research LaboratoryEmail verificata su hco.ntt.co.jp
- Kouichi SembaThe University of TokyoEmail verificata su ipst.s.u-tokyo.ac.jp
- Herre van der ZantKavli Institute of Nanoscience, Delft University of TechnologyEmail verificata su tudelft.nl
- Hiroshi InokawaShizuoka UniversityEmail verificata su shizuoka.ac.jp
- Yukinori OnoResearch Institute of Electronics, Shizuoka UniversityEmail verificata su shizuoka.ac.jp
- Tim JonesProvost and Professor of Chemistry, University of BirminghamEmail verificata su bham.ac.uk
- Samer HouriimecEmail verificata su imec.be