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Coautori
- Ernesto LimitiUniversità di Roma Tor Vergata - EE Dept.Email verificata su ing.uniroma2.it
- Walter CiccognaniUniversity of Rome Tor VergataEmail verificata su uniroma2.it
- Patrick LonghiEE dept - University of Roma Tor VergataEmail verificata su ing.uniroma2.it
- Mirko PalombaUniversità di Roma Tor VergataEmail verificata su uniroma2.it
- Lorenzo PacePolitecnico di TorinoEmail verificata su polito.it
- Rocco GiofreUniversità di Roma Tor Vergata Email verificata su ing.uniroma2.it
- Riccardo CleritiElettronica SpAEmail verificata su elt.it
- Marco MarinelliUniversità Tor Vergata di RomaEmail verificata su uniroma2.it
- Gianluca Verona RinatiUniversità di Tor VergataEmail verificata su uniroma2.it
- Fabio Di PietrantonioIstituto per la Microelettronica e MicrosistemiEmail verificata su uninettunouniversity.net
- Paolo ColantonioUniversity of Roma Tor Vergata - Department of Electronic EngineeringEmail verificata su uniroma2.it
- franco gianniniprofessore di elettronica analogica,Università di Roma Tor VergataEmail verificata su uniroma2.it
- Vittorio CamarchiaAssociate Professor of Electronics, Politecnico di TorinoEmail verificata su polito.it
- Giovanni CrupiUniversity of MessinaEmail verificata su unime.it
- Giovanni GhioneProfessore ordinario di elettronica, Politecnico di TorinoEmail verificata su polito.it
- David MoranThe University of GlasgowEmail verificata su glasgow.ac.uk
- Federica CappellutiAssociate Professor of Electronic Engineering, Politecnico di TorinoEmail verificata su polito.it
- Stephen A. O. RussellTechInsights, Inc.Email verificata su warwick.ac.uk