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Coautori
- Giovanni BoeroEcole Polytechnique Fédérale de Lausanne (EPFL)Email verificata su epfl.ch
- Luis Guillermo VillanuevaÉcole Polytechnique Fédérale de Lausanne (EPFL)Email verificata su epfl.ch
- Gyu Man KimKyungpook National UniversityEmail verificata su knu.ac.kr
- Beomjoon KimThe University of Tokyo, Institute of Industrial ScienceEmail verificata su iis.u-tokyo.ac.jp
- Victor J CadarsoMonash UniversityEmail verificata su monash.edu
- Valentin FlauraudEPFL LausanneEmail verificata su photovf.com
- Nico de RooijProfessor Emeritus, EPFLEmail verificata su epfl.ch
- Philippe RenaudEPFLEmail verificata su epfl.ch
- Vahid FakhfouriRichemont InternationalEmail verificata su alumni.epfl.ch
- Xiao-Sheng ZhangProfessor, University of Electronic Science and Technology of China (UESTC)Email verificata su uestc.edu.cn
- Harry HeinzelmannCSEMEmail verificata su csem.ch
- Raphaël PuginSection Head Nanoscale Technology CSEM SAEmail verificata su csem.ch
- Francesc Perez-MuranoIMB-CNM, CSICEmail verificata su csic.es
- Loïc Jacot DescombesAdvanced Consultant, AltranEmail verificata su altran.com
- Massimo MastrangeliAssociate Professor, Delft University of TechnologyEmail verificata su tudelft.nl
- Olivier J.F. MartinProfessor of Nanophotonics & Optical Signal Processing, EPFLEmail verificata su epfl.ch
- Shenqi XieEPFLEmail verificata su epfl.ch
- Xia LiuEPFLEmail verificata su epfl.ch
- Julien ArcamoneASMEmail verificata su asm.com
- Sivashankar KrishnamoorthyLuxembourg Institute of Science and TechnologyEmail verificata su alumni.epfl.ch