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Coauteurs
- Travis J. AndersonUniversity of FloridaAdresse e-mail validée de che.ufl.edu
- Stephen PeartonProfessor of Materials Science and Engineering, University of FloridaAdresse e-mail validée de mse.ufl.edu
- Andrew D. KoehlerNaval Research LaboratoryAdresse e-mail validée de nrl.navy.mil
- Fan RenUniversity of Florida, Bell Lab, AT&TAdresse e-mail validée de che.ufl.edu
- C.R. Eddy, Jr.U.S. Naval Research LaboratoryAdresse e-mail validée de nrl.navy.mil
- Michael MastroUS Naval Research LabAdresse e-mail validée de us.navy.mil
- Francis KubNaval Research LaboratoryAdresse e-mail validée de ieee.org
- Jiancheng Yang. PhDKeysight TechnologiesAdresse e-mail validée de keysight.com
- Joshua D. CaldwellVanderbilt UniversityAdresse e-mail validée de vanderbilt.edu
- Alan G. JacobsNaval Research LaboratoryAdresse e-mail validée de cornell.edu
- Jihyun KimSeoul National UniversityAdresse e-mail validée de snu.ac.kr
- Chaker FaresPhD. Student, University of FloridaAdresse e-mail validée de ufl.edu
- Nadeemullah MahadikNaval Research LaboratoryAdresse e-mail validée de nrl.navy.mil
- Yuhao ZhangUniversity of Hong KongAdresse e-mail validée de hku.hk
- Boris Feigelson and Boris FeygelsonU.S. Naval Research LaboratoryAdresse e-mail validée de nrl.navy.mil
- Minghan XianMicron Technology; University of Florida; University of DelawareAdresse e-mail validée de ufl.edu
- M. GoorskyUniversity of California, Los AngelesAdresse e-mail validée de seas.ucla.edu
- Fernando CalleProfesor, Universidad Politécnica de MadridAdresse e-mail validée de upm.es
- Jordan GreenleeMicron TechnologyAdresse e-mail validée de gatech.edu
- Samuel GrahamUniversity of MarylandAdresse e-mail validée de umd.edu