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Coauteurs
Mario BkassinySUNY OswegoAdresse e-mail validée de oswego.edu
Yang LiAlert Innovation, Inc.Adresse e-mail validée de alertinnovation.com
HV PoorMichael Henry Strater University Professor, Princeton UniversityAdresse e-mail validée de princeton.edu
Carlos MosqueraProfessor, atlanTTic research center, University of VigoAdresse e-mail validée de gts.uvigo.es
Mohamed Attia ArefPhD student, Electrical and Computer Engineering, University of New MexicoAdresse e-mail validée de unm.edu
Thakshila WimalajeewaSenior Professional Staff, Johns Hopkins University Applied Physics Laboratory, Laurel, MD 20723Adresse e-mail validée de ieee.org
Keith AveryAdresse e-mail validée de us.af.mil
Christos ChristodoulouUniversity of New MexicoAdresse e-mail validée de unm.edu
Ding LiUniversity of New MexicoAdresse e-mail validée de unm.edu
Georges El-HowayekUniversity of New MexicoAdresse e-mail validée de ece.unm.edu
Kamrul HakimPhDAdresse e-mail validée de samsung.com
Tianming LiAnt GroupAdresse e-mail validée de antgroup.com
Kamesh NamuduriProfessor, Electrical Engineering, University of North TexasAdresse e-mail validée de unt.edu
Gonzalo Vazquez-VilarUniversidad Carlos III de MadridAdresse e-mail validée de uc3m.es
Richard Scott ErwinAir Force Research LaboratoryAdresse e-mail validée de us.af.mil
Youssef Antoine TawkAssociate Professor, American University of BeirutAdresse e-mail validée de aub.edu.lb
Yongxiang RuanPhD of Electrical Engineering, University of New MexicoAdresse e-mail validée de unm.edu
Chaouki AbdallahLebanese American UniversityAdresse e-mail validée de lau.edu.lb
KASUN PRABHATHDepartment of electrical and electronic EngineeringAdresse e-mail validée de unm.edu
Sanjeevi BalasubramanianApple IncAdresse e-mail validée de apple.com