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Coauteurs
- Shinichi TakagiThe University of TokyoAdresse e-mail validée de ee.t.u-tokyo.ac.jp
- Mitsuru TakenakaThe University of TokyoAdresse e-mail validée de mosfet.t.u-tokyo.ac.jp
- Dae-Myeong GeumInha UniversityAdresse e-mail validée de inha.ac.kr
- Jae-Hoon HanKorea institute of science and technology (KIST)Adresse e-mail validée de kist.re.kr
- JinDong SongKISTAdresse e-mail validée de kist.re.kr
- Jae-Phil ShimPost.doc., Korea Institute of Science and Technology (KIST)Adresse e-mail validée de kist.re.kr
- Min-Su ParkDong-A UniversityAdresse e-mail validée de dau.ac.kr
- Takuya HoshiiTokyo Institute of TechnologyAdresse e-mail validée de m.titech.ac.jp
- Euijoon YoonKorea Institute of Energy TechnologyAdresse e-mail validée de kentech.ac.kr
- Jihoon KyhmKISTAdresse e-mail validée de kist.re.kr
- Younghyun KimHanyang UniveersityAdresse e-mail validée de hanyang.ac.kr
- Jeong Min BaikSungkyunkwan UniversityAdresse e-mail validée de skku.edu
- Joon-Kyu HanAssistant Professor, Sogang UniversityAdresse e-mail validée de sogang.ac.kr
- Yang-Kyu ChoiProfessor of Electrical Engineering, KAISTAdresse e-mail validée de ee.kaist.ac.kr
- Y C KaoIntelliEPI, Inc.Adresse e-mail validée de intelliepi.com
- Muhammad Ashraful AlamJai N. Gupta Distinguished Professor of Electrical Engineering, Purdue UniversityAdresse e-mail validée de purdue.edu
- Seong Kwang KimSamsung Electronics
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Sanghyeon Kim
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