دریافت نمایه من
نقل شده توسط
| همهٔ موارد | از 2019 | |
|---|---|---|
| نقل‌قول‌ها | 9255 | 7588 |
| شاخص h | 39 | 33 |
| شاخص i10 | 63 | 54 |
دسترسی عمومی
مشاهدهٔ همه۳۷ مقاله
۰ مقاله
در دسترس
در دسترس نیست
براساس دستورات هزینه انتشار
نویسندگان مشترک
Gerbrand CederProfessor of Materials Science and Engineeringایمیل تأیید شده در berkeley.edu- Lincoln MiaraEngineer, Samsung Electronicsایمیل تأیید شده در bu.edu
- William D RichardsMITایمیل تأیید شده در mit.edu
- Jae Chul KimStevens Institute of Technologyایمیل تأیید شده در stevens.edu
- Shou-Hang BoU Michigan - Shanghai Jiao Tong University Joint Institueایمیل تأیید شده در sjtu.edu.cn
- Yihan XiaoMeta Platforms, Inc., University of California, Berkeleyایمیل تأیید شده در berkeley.edu
- Shyue Ping OngUniversity of California San Diegoایمیل تأیید شده در ucsd.edu
- Bin Ouyang (欧阳彬)Florida State Universityایمیل تأیید شده در fsu.edu
- XG ZhangProfessor of Physics, Quantum Theory Project, University of Floridaایمیل تأیید شده در ufl.edu
- Xiufeng HanInstitute Of Physics, Chinese Academy Of Sciencesایمیل تأیید شده در iphy.ac.cn
- Yan-Yan HuProfessor of Chemistry & Biochemistry, Florida State University/National High Magneticایمیل تأیید شده در fsu.edu
- Haegyeom KimCareer Staff Scientist at Lawrence Berkeley National Laboratoryایمیل تأیید شده در lbl.gov
- Tan ShiApple Inc.; University of California, Berkeleyایمیل تأیید شده در berkeley.edu
- Valentina LacivitaSamsung Semiconductor, Inc.ایمیل تأیید شده در samsung.com
- Sawankumar V PatelAlbemarle Corporationایمیل تأیید شده در my.fsu.edu
- Yifei MoProfessor of Materials Science and Engineering, University of Maryland, College Parkایمیل تأیید شده در umd.edu
- Xuyong FengProfessor, Hefei University of Technologyایمیل تأیید شده در hfut.edu.cn
- Haoyu LiuArgonne National Laboratoryایمیل تأیید شده در anl.gov
- Lei LiuApple, A123, MITایمیل تأیید شده در mit.edu
- Xin LiAssociate Professor of Materials Science, Harvard Universityایمیل تأیید شده در g.harvard.edu
دنبال کردن
Yan(Eric) Wang 王琰
Samsung SAIT-America; (previously at Tsinghua; IOP-CAS; UFL; MIT)
ایمیل تأیید شده در samsung.com - صفحهٔ اصلی