نمایه‌‌ها

Reinhold H. Dauskardt

Ruth G. and William K. Bowes Professor, Stanford University

ایمیل تأیید شده در stanford.edu

بیان شده در 24671 یافته

nanomaterials thin-films device reliability human skin

KL PEY

Professor, Singapore University of Technology and Design

ایمیل تأیید شده در sutd.edu.sg

بیان شده در 10945 یافته

Device reliability ultrathin gate oxide breakdown

Chong Leong, Gan., Ph.D, FRSC, FInstP, FIOM3, FIET

Micron Memory Taiwan Co Ltd

ایمیل تأیید شده در broadcom.com

بیان شده در 4192 یافته

Microelectronics Packaging Reliability Engineering Device Reliability Material Science

Jungjin Yoon

First Solar

بیان شده در 3098 یافته

flexible electronics solar energy conversion device reliability

Ashutosh Jain

WesternDigital

ایمیل تأیید شده در wdc.com

بیان شده در 2801 یافته

Semiconductor Packaging Materials Science Device Reliability

Abhisek Dixit

NXP Chair Professor, Electrical Engineering, IIT Delhi, New Delhi, India

ایمیل تأیید شده در ee.iitd.ac.in

بیان شده در 2798 یافته

Device Reliability RF Characterization Compact Modeling Cryogenic CMOS Radiation Effects

Ilgu Yun

Professor, School of Electrical and Electronic Engineering, Yonsei University, Seoul, South …

ایمیل تأیید شده در yonsei.ac.kr

بیان شده در 2593 یافته

Semiconductor Device Modeling Semiconductor Process Control Device Reliability TCAD Photodiodes

Cheng Liu

The Hong Kong University of Science and Technology

ایمیل تأیید شده در ust.hk

بیان شده در 2197 یافته

III-nitride semiconductors GaN power devices device reliability novel device structures

Nilesh Goel

Birla Institute of Technology and Science, Pilani Dubai Campus (BITS Pilani Dubai Campus)

ایمیل تأیید شده در ieee.org

بیان شده در 1324 یافته

Device reliability Reliability aware circuits characterization and modeling.

Young Gon Lee

SK hynix

ایمیل تأیید شده در sk.com

بیان شده در 1090 یافته

Device reliability Electrical measurement Semiconductor device

1 - 10