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Coautores
- Ali JaveyProfessor of Electrical Engineering and Computer Sciences, UC BerkeleyDirección de correo verificada de berkeley.edu
- Jr-Hau He 何志浩Professor of Materials Science & Engineering, City University of Hong KongDirección de correo verificada de cityu.edu.hk
- Daisuke KiriyaThe University of TokyoDirección de correo verificada de g.ecc.u-tokyo.ac.jp
- Joel W. Ager IIISenior Staff Scientist, Lawrence Berkeley Nat. Laboratory and Adjunct Professor, MSE, UC BerkeleyDirección de correo verificada de lbl.gov
- Wei GaoProfessor at California Institute of TechnologyDirección de correo verificada de caltech.edu
- Hiroki OtaAssociate Professor, Graduate School of Engineering, Yokohama National UniversityDirección de correo verificada de ynu.ac.jp
- Yu-Lun ChuehNational Tsing Huniversity, Materials Science and EngineeringDirección de correo verificada de mx.nthu.edu.tw
- Eli YablonovitchDirección de correo verificada de eecs.berkeley.edu
- Cheng-Ying Chen (陳政營)Department of Optoelectronics and Materials Technology, National Taiwan Ocean UniversityDirección de correo verificada de mail.ntou.edu.tw
- Hsin-Ping WangStanford UniversityDirección de correo verificada de stanford.edu
- Tania RoyDuke UniversityDirección de correo verificada de duke.edu
- Zhong Lin WangBeijing Institute of Nanoenergy and NanosystemsDirección de correo verificada de mse.gatech.edu
- Zhiyong FanProfessor of Electronic and Computer Engineering, Hong Kong University of Science andDirección de correo verificada de ust.hk