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Coautores
G J ShifletProfessor of Materials Science, University of VirginiaDirección de correo verificada de virginia.edu- Terry TrittProfessor of Physics, Clemson UniversityDirección de correo verificada de g.clemson.edu
- William L. JohnsonCalifornia Institute of TechnologyDirección de correo verificada de caltech.edu
- Takeshi EgamiProfessor of Materials Science and Physics, University of TennesseeDirección de correo verificada de utk.edu
- Jack SimonsonFarmingdale State CollegeDirección de correo verificada de farmingdale.edu
- Wenjie XieTechnische Universität DarmstadtDirección de correo verificada de mr.tu-darmstadt.de
- SA WolfUniversity of VirginiaDirección de correo verificada de virginia.edu
- Despina LoucaProfessor of Physics, University of VirginiaDirección de correo verificada de virginia.edu
- Jian HeClemson UniversityDirección de correo verificada de clemson.edu
- Mircea R. StanVirginia Microelectronics Consortium (VMEC) Professor, University of VirginiaDirección de correo verificada de virginia.edu
- J GopalakrishnanSolid State and structural Chemistry Unit, Indian Institute of Science, Bangalore, IndiaDirección de correo verificada de iisc.ac.in
- Di WuShaanxi Normal University/Southern University of Science and Technology/University of VirginiaDirección de correo verificada de snnu.edu.cn
- Xinfeng Tang (唐新峰)Wuhan University of TechnologyDirección de correo verificada de whut.edu.cn
- Dmytro ApalkovSr. Principal Engineer/Sr. Director, Modeling, Samsung Semiconductor R&DDirección de correo verificada de samsung.com
- anke weidenkaffTU DarmstadtDirección de correo verificada de mr.tu-darmstadt.de
- Rama VenkatasubramanianJohns Hopkins University Applied Physics LabDirección de correo verificada de jhuapl.edu
- Jiwei LuAFOSR
