Perfiles

William DA Rickard

John de Laeter Centre, Curtin University

Dirección de correo verificada de curtin.edu.au

Citado por 6384

Nano/microanalysis FIB-SEM ToF-SIMS Geopolymers Geoscience

Jose-Jesus Fernandez

Spanish National Research Council (CSIC)

Dirección de correo verificada de csic.es

Citado por 6179

Image Processing Electron Tomography FIB/SEM High Performance Computing Cryo-ET

Lucas Parent

Scientist, Draper Laboratory

Dirección de correo verificada de draper.com

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Electron Microscopy TEM FIB-SEM nanomaterials LCTEM

Raza Moshwan

Research Fellow, QUT, Australia; CAS PIFI Fellow, DICP, China; A/Prof, IUBAT, Bangladesh

Dirección de correo verificada de qut.edu.au

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Thermoelectricitiy XRD TEM/STEM SEM/EDS FIB-SEM

Katya Rechav

Electron Microscopy Center, Weizmann Institute of Science

Dirección de correo verificada de weizmann.ac.il

Citado por 1790

EM tomography focused ion beam microscopy FIB/SEM

Robert Winkler

Christian Doppler Laboratory for Direct-Write Fabrication of Nanoprobes, FELMI-ZFE

Dirección de correo verificada de felmi-zfe.at

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FEBID 3D-Nanoprinting AFM SPM FIB-SEM

Mason Wolak

Peak Nano Films

Dirección de correo verificada de peaknano.com

Citado por 1768

dielectrics FIB/SEM breakdown nanostructured polymers OLEDs

Christoph Pauly

Saarland University

Dirección de correo verificada de mx.uni-saarland.de

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FIB/SEM PVD Characterization Reactive Materials Multilayers

Kang Dong

Institute of High Energy Physics CAS; Helmholtz-Zentrum Berlin (HZB)

Dirección de correo verificada de ihep.ac.cn

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Batteries Imaging techniques X-ray tomography FIB/SEM

Hossein Pourrahmani

University of California, Irvine (UCI)

Dirección de correo verificada de uci.edu

Citado por 1358

Fuel cells and batteries CFD FIB-SEM LCA/ exergoeconomic Neural computing/ IoT

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