Gerald jellison

Gerald jellison

Senior Scientist, Oak Ridge National Laboratory
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Ellipsometry thin films optical properties NMR of glasses
Juan Antonio Zapien

Juan Antonio Zapien

City Uniiversity of Hong Kong
Dirección de correo verificada de cityu.edu.hk
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Optical properties nanomaterials thin films ellipsometry nanophotonics
Hiroyuki Fujiwara

Hiroyuki Fujiwara

Gifu University
Dirección de correo verificada de gifu-u.ac.jp
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Solar cells Photovoltaics Ellipsometry Optical characterization
Maria Isabel Alonso

Maria Isabel Alonso

Institut de Ciència de Materials de Barcelona (ICMAB-CSIC)
Dirección de correo verificada de icmab.es
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Semiconductors Ellipsometry SERS FDTR MBE
Alain Diebold

Alain Diebold

University at Albany, SUNY
Dirección de correo verificada de albany.edu
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Characterization Metrology microscopy ellipsometry
Michele Magnozzi

Michele Magnozzi

Researcher
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Optical Materials Ellipsometry Thin films Optical coatings
Alexandr Dejneka

Alexandr Dejneka

Institute of Physics of the Czech Academy of Sciences
Dirección de correo verificada de fzu.cz
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optics biophysics thin films ellipsometry
Shiyuan Liu (刘世元)

Shiyuan Liu (刘世元)

Huazhong University of Science and Technology
Dirección de correo verificada de hust.edu.cn
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Ellipsometry Scatterometry Nanometrology Defect Inspection Thin Film Characterization
Martin Feneberg

Martin Feneberg

Researcher, Otto von Guericke University Magdeburg
Dirección de correo verificada de ovgu.de
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semiconductor optics wide bandgap semiconductors III-nitrides ellipsometry Raman and luminescence
Prof. Dr. Sofyan Taya

Prof. Dr. Sofyan Taya

Islamic University of Gaza
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Optical waveguides Optical waveguide sensing Ellipsometry Dye-sensitized solar cells OLEDs
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