Mark Biesinger

Mark Biesinger

Surface Science Western, University of Western Ontario
Bestätigte E-Mail-Adresse bei uwo.ca
Zitiert von: 27122
Surface Science Surface Analysis X-ray Photoelectron Spectroscopy XPS ToF-SIMS
Alain Brunelle

Alain Brunelle

CNRS Research Director (DR1)
Bestätigte E-Mail-Adresse bei cnrs.fr
Zitiert von: 9207
Mass Spectrometry Mass Spectrometry Imaging TOF-SIMS Polyatomic Ion Sources
Zihua Zhu

Zihua Zhu

Pacific Northwest National Laboratory (PNNL)
Bestätigte E-Mail-Adresse bei pnnl.gov
Zitiert von: 9193
Secondary ion mass spectrometry (SIMS) ToF-SIMS NanoSIMS
William D. A. Rickard

William DA Rickard

John de Laeter Centre, Curtin University
Bestätigte E-Mail-Adresse bei curtin.edu.au
Zitiert von: 6384
Nano/microanalysis FIB-SEM ToF-SIMS Geopolymers Geoscience
Michael Lee

Michael Lee

Assistant Professor of Analytical Chemistry, Chemistry and Biochemistry, Northern Arizona …
Bestätigte E-Mail-Adresse bei nau.edu
Zitiert von: 6149
collaborative interdisciplinary analytical … surface chemistry tof-sims
Xiao-Ying Yu

Xiao-Ying Yu

Oak Ridge National Laboratory
Bestätigte E-Mail-Adresse bei ornl.gov
Zitiert von: 5062
imaging kinetics microfluidics ToF-SIMS aerosol
Paul Pigram

Paul Pigram

La Trobe University, Melbourne, Australia
Bestätigte E-Mail-Adresse bei latrobe.edu.au
Zitiert von: 4791
Surface Science Surface Analysis ToF-SIMS X-ray Photoelectron Spectroscopy XPS
Daniel J. Graham

Daniel J. Graham

University of Washington
Bestätigte E-Mail-Adresse bei uw.edu
Zitiert von: 4762
ToF-SIMS imaging multivariate analysis PCA MCR
Thomas P Beebe Jr

Thomas P Beebe Jr

University of Delaware
Bestätigte E-Mail-Adresse bei udel.edu
Zitiert von: 4121
surface chemistry surface analysis XPS TOF-SIMS
Barry Brennan

Barry Brennan

Atlantic Technological University
Bestätigte E-Mail-Adresse bei atu.ie
Zitiert von: 4019
Graphene III-V semiconductors XPS ToF-SIMS
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