Jacopo Franco

Jacopo Franco

imec
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CMOS devices reliability Bias Temperature Instability variability high mobility channels
Diing Shenp ANG

Diing Shenp ANG

Nanyang Technological University, Singapore
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Resistive Memory Neuromorphic Devices Memory-in-Logic Devices Bias Temperature Instability Channel Hot-Carrier Effect
Franz Schanovsky

Franz Schanovsky

Global TCAD Solutions GmbH
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Semiconductor Device Modeling Reliability Bias Temperature Instability SONOS Charge Trapping Layer
Arunkumar Vijayan

Arunkumar Vijayan

Postdoctoral Researcher, Karlsruhe Institute of Technology
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Zitiert von: 147
Machine Learning Soft Errors Bias Temperature Instability