جارٍ التحميل...
يتعذر على النظام إجراء العملية في الوقت الحالي. عاود المحاولة لاحقًا.
المقالات
الملفات الشخصية
ملفي الشخصي
مكتبتي
المقاييس
إشعارات
الإعدادات
تسجيل الدخول
تسجيل الدخول
الملفات الشخصية
ملفي الشخصي
مكتبتي
Toh-Ming Lu
Rensselaer Polytechnic Institute
بريد إلكتروني تم التحقق منه على rpi.edu
تم اقتباسها في عدد: 25261
thin films and nanostructures
Indrani Coondoo
Researcher, University of Aveiro, Portugal
بريد إلكتروني تم التحقق منه على ua.pt
تم اقتباسها في عدد: 1961
Piezoelectrics
Ferroelectrics
Multiferroics bulk
thin films and nanostructures
Bertrand Lacroix
Universidad de Sevilla
بريد إلكتروني تم التحقق منه على us.es
تم اقتباسها في عدد: 1004
materials
thin films and nanostructures
electron microscopies
optical properties
X-ray diffraction
Iliescu Ionela
CIRIMAT Toulouse
تم اقتباسها في عدد: 52
Thin films and nanostructures
materials growth and characterization
development of novel materials
الخصوصية
البنود
مساعدة
لمحة عن "الباحث العلمي"
مركز مساعدة "بحث Google"