الملفات الشخصية

Christopher Frost

Individual Merit STFC Research Scientist

بريد إلكتروني تم التحقق منه على stfc.ac.uk

تم اقتباسها في عدد: 7579

Radiation Effects Neutron Science Single Event Effects

Steve LaLumondiere

The Aerospace Corporation

بريد إلكتروني تم التحقق منه على aero.org

تم اقتباسها في عدد: 1820

Single Event Effects Radiation Effects Semiconductor Device and Materials …

Jeffrey S. Kauppila

Institute for Space and Defense Electronics, Vanderbilt University

بريد إلكتروني تم التحقق منه على vanderbilt.edu

تم اقتباسها في عدد: 1695

Radiation Effects CMOS Single-Event Effects Compact Modeling

Nathaniel Kaneshige

Helion Energy

بريد إلكتروني تم التحقق منه على helionenergy.com

تم اقتباسها في عدد: 1550

Radiation Detection Neutron Detectors Fusion Diagnostics Radiation Effects Single Event Effects

laurent ARTOLA

Senior II Research Engineer ONERA

بريد إلكتروني تم التحقق منه على onera.fr

تم اقتباسها في عدد: 1380

Electronic reliability Single Event Effects Radiation effects Semiconductor device

Boyang Du

تم اقتباسها في عدد: 639

Fault Tolerant FPGA Testing Single Event Effects Radiation Effects

Hangfang Zhang

Vanderbilt University

بريد إلكتروني تم التحقق منه على vanderbilt.edu

تم اقتباسها في عدد: 593

Embedded Systems Single event effects IC design

Liang Wang

Beijing Microelectronics Technology Institute

بريد إلكتروني تم التحقق منه على vanderbilt.edu

تم اقتباسها في عدد: 521

radiation effects radiation hardening single event effects cmos phase-locked loop

Pedro Martín-Holgado

Centro Nacional de Aceleradores, Universidad de Sevilla

بريد إلكتروني تم التحقق منه على us.es

تم اقتباسها في عدد: 324

radiation_effects_on_electronics microelectronics single_event_effects radiation_detectors Dosimetry

Chundong Liang

Vanderbilt University; Maxim Integrated; Micron; Amazon AWS

بريد إلكتروني تم التحقق منه على amazon.com

تم اقتباسها في عدد: 296

Microelectronics Reliability single-event-effects Semiconductor Devices Electronics

1 - 10