الملفات الشخصية

Bulent Basol

CEO, Active Layer Parametrics

بريد إلكتروني تم التحقق منه على basolfamily.com

تم اقتباسها في عدد: 12042

Semiconductor characterization thin film PV thin films electrochemical processes semiconductors

Chuanxiao Xiao

Ningbo Institute of Materials Technology & Engineering, Chinese Academy of Sciences; …

بريد إلكتروني تم التحقق منه على nimte.ac.cn

تم اقتباسها في عدد: 11448

Semiconductor Characterization Failure Analysis Solar Cell Physics

Darius Kuciauskas

National Renewable Energy Laboratory (NREL)

بريد إلكتروني تم التحقق منه على nrel.gov

تم اقتباسها في عدد: 10701

semiconductor characterization thin film photovoltaics CdTe photoluminescence

Shuang Xu

PhD student, University of North Caroline at Chapel Hill

بريد إلكتروني تم التحقق منه على live.unc.edu

تم اقتباسها في عدد: 2492

Computed tomography CBCT Radiation detector Semiconductor characterization Carbon nanotube X-ray

Daliento Santolo

Professore di Dispositivi e Sistemi Fotovoltaici, Università di Napoli

بريد إلكتروني تم التحقق منه على unina.it

تم اقتباسها في عدد: 2441

Fotovoltaico power devices semiconductor characterization electronic devices

Chaker Fares

PhD. Student, University of Florida

بريد إلكتروني تم التحقق منه على ufl.edu

تم اقتباسها في عدد: 1675

Semiconductor Fabrication Semiconductor Characterization Biosensors Schottky Diodes Irradiation Studies

Minghan Xian

Micron Technology; University of Florida; University of Delaware

بريد إلكتروني تم التحقق منه على ufl.edu

تم اقتباسها في عدد: 870

Black Carbon (biochar) Gallium Oxide Schottky diode Semiconductor fabrication Semiconductor characterization

Paul Gundel

DB Netz AG

بريد إلكتروني تم التحقق منه على deutschebahn.com

تم اقتباسها في عدد: 835

Metalization of solar cells power electronics semiconductor characterization solar cells semiconductor devices

Slimane Oussalah, Ph.D

Centre de Développement des Technologies Avancées, CDTA, Algiers, Algeria

بريد إلكتروني تم التحقق منه على cdta.dz

تم اقتباسها في عدد: 404

semiconductor characterization TACD simulation silicon detector

Amit Solanki

Harvard University

بريد إلكتروني تم التحقق منه على seas.harvard.edu

تم اقتباسها في عدد: 364

Nanowires Nanophotonics Nanofabrication Semiconductor characterization Device physics

1 - 10