الملفات الشخصية

الملفات الشخصية

ملفي الشخصي مكتبتي

Joan Marc Rafí

Instituto de Microelectrónica de Barcelona, IMB-CNM, CSIC, Científico Titular del CSIC

بريد إلكتروني تم التحقق منه على csic.es

تم اقتباسها في عدد: 21644

Electrical characterization Electrical Reliability Radiation effects Advanced CMOS devices Semiconductor radiation detectors

Li Zhonghua

Research Fellow @ National University of Singapore

بريد إلكتروني تم التحقق منه على nus.edu.sg

تم اقتباسها في عدد: 11

Advanced CMOS Devices 2-D Materials and Devices